四探针方阻仪？四探针测方阻？

摘要： 本文目录一览：1、...可以用直流电阻器校准的,但是不知道如何连线,方块电阻是四探针......

本文目录一览：

• 1、...可以用直流电阻器校准的,但是不知道如何连线,方块电阻是四探针...
• 2、电阻率与方阻的关系
• 3、粉末电阻率测试仪哪家性价比高?
• 4、四探针法消除接触电阻的原理
• 5、四探针电阻率测试仪主要是测什么电阻率的?
• 6、改进KDY-1型四探针电阻率方阻测试仪(因为它只能测度标准样品的电阻率...

...可以用直流电阻器校准的,但是不知道如何连线,方块电阻是四探针...

将2探针并联后，与一个1欧姆的精密电阻（或标准电阻）的一端相连；4探针并联后，再与精密电阻的另一端相连。这时方块电阻测试仪的测试值=532欧姆/方块。

用其他的方法也是可以测量的，但是误差要差的很大。其实四探针的测试原理是基于伏安法发展而来的，机械的把四个测点固定了，再测电流和电压值，经过内部运算得出的方块电阻，这样测既方便精度又高。

油体积电阻率测定仪按DL4291《绝缘油体积电阻率测定法》的电力行业标准为依据，根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定专用仪器。

电阻率与方阻的关系

1、方阻是指膜厚一定、长度和宽度相同的膜材料的电阻，又称为片电阻率、面积电阻率。

2、石墨烯电阻和方阻的关系是通过电阻求出电阻率，通过电阻率求出方阻。根据查询相关资料信息方阻是指膜厚一定、长度和宽度相同的膜材料的电阻，又称为片电阻率、面积电阻率。

3、电阻率p，一般指体积电阻率；方阻R，一般指薄层（厚度为s）的电阻率；则“电阻率方阻换算”为：R = p / s 。

4、方阻介绍：在一长为l，宽w，高d，此时L=l，S=w*d，故R=ρ*l/(w*d)=(ρ/d)*(l/w)。令l=w于是R=(ρ/d)，其中ρ为材料的电阻率，此时的R为方阻。

粉末电阻率测试仪哪家性价比高?

1、选OTDR测试仪品牌的话，进口的有EXFO、横河、唯亚威，国产有南京吉隆、41所、信维等品牌。

2、美芝（Meishi）：该品牌的DTDR测试仪具有多种测试功能，包括OTDR、PON、VFL等，且价格相对较为亲民，适合中小型企业或个人用户使用。

3、电子天平 天平用于精确称量各类试剂。实验室常用的是电子天平，电子天平按照精度不同有不同的级别。水分测定仪 快速测定物质含水量，可提供实时温度、样品质量、脱水率、样品含水百分比等数。

4、最后，青岛艾诺产品性价比非常高，可以满足各类企业在价格和质量上的需求，帮助企业节约成本，提高生产运行效率。如果想要了解程控绝缘耐压测试仪，不妨看看青岛艾诺。

5、它用全新电源技术，具有测量迅速、体积大巧、使用方便、测量精度高等特点。是测量变压器绕组以及大功率电感设备直流电阻的理想设备。

四探针法消除接触电阻的原理

1、它通过使用四个电极，在被测材料上施加电压并测量电流来测量体积电阻率。由于四探针测量法能够消除电极接触电阻的影响，因此能够提供更准确的体积电阻率测量结果。

2、四探针法是通过四个探针接触材料表面，利用电流注入和电压测量来计算电阻值，不需要精细操作。

3、四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。

4、原理不同。四探针直接测得的是表面电阻（率），俗称方块电阻，这比万用表准些。万用表直接测得的是电阻，要换算电阻率还要其他参数。四探针是基于四电极法，四电极法的最大特点是可以消除探针和待测物质之间的接触电阻。

四探针电阻率测试仪主要是测什么电阻率的?

1、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

2、四探针法是通过四个探针接触材料表面，利用电流注入和电压测量来计算电阻值，不需要精细操作。

3、你这个四探针电阻率测试仪是测表面电阻的吧。这种测试仪测的探针周围的表面电阻，并且四个探针之间距离为1mm左右，感觉误差较大。

4、四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

5、四探针电阻测试仪：用于测量物质的电阻主机用世界领先的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。

6、四探针直接测得的是表面电阻（率），俗称方块电阻，这比万用表准些。万用表直接测得的是电阻，要换算电阻率还要其他参数。四探针是基于四电极法，四电极法的最大特点是可以消除探针和待测物质之间的接触电阻。

改进KDY-1型四探针电阻率方阻测试仪(因为它只能测度标准样品的电阻率...

1、KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。

2、四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

3、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。HRMS-800高温四探针电阻率测试仪就是，主要测量的参数就是半导体材料的电阻、电阻率、方块电阻等。

4、方块电阻就是表面电阻率。可以四探针法直接测试薄膜的表面电阻率。计算公式：方块电阻（或表面电阻率）R = 532 V / I 。其中，V 是探针2-3 间的电位差；I 是探针1-4 间的电流。

5、三琦高温四探针测量系统是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量系统软件四个组成部分。